點(diǎn)擊圖片查看原圖
艾思荔集成電路PCT高壓加速老化試驗(yàn)箱采用進(jìn)口微電腦控制飽和蒸氣溫度、微電腦P.I.D自動(dòng)演算控制飽和蒸氣溫度。采用指針顯示正負(fù)壓表；時(shí)間控制器采LED顯示器；自動(dòng)水位控制器,水位不足時(shí)提供警示。圓型內(nèi)箱,不銹鋼圓型試驗(yàn)內(nèi)箱結(jié)構(gòu),符合工業(yè)安全容器標(biāo)準(zhǔn),可防止試驗(yàn)中結(jié)露滴水設(shè)計(jì)。
集成電路PCT高壓加速老化試驗(yàn)箱規(guī)格參數(shù)：
內(nèi)箱尺寸(cm)：Φ25×D35 Φ30×D45 Φ40×D55 Φ50×D60
控制系統(tǒng)：微電腦飽和蒸氣濕度+時(shí)間+壓力顯示獨(dú)立控制器
溫度范圍：100℃-132℃可任意設(shè)定（143℃為特殊訂制）
濕度范圍：100％RH飽和蒸氣濕度
使用蒸氣壓力：0.0kg/㎝²-4.00kg/㎝²（對壓力：安全壓力容量4kg/㎝²/G=1個(gè)環(huán)境大氣壓+3kg/㎝²）
解析度：溫度：0.1壓力；指針式0.1
控制穩(wěn)定度：溫度：&plu**n;0.5℃，濕度：100％
內(nèi)箱材質(zhì)：SUS316#不銹鋼
外箱材質(zhì)：鋼板烤漆
循環(huán)方式：水蒸氣自然對流循環(huán)
配件：不銹鋼置物架二層（或按客戶要求定制）
電源：AC220V,50/60HZ&1¢,AC380V,50/60HZ&3¢
集成電路PCT高壓加速老化試驗(yàn)箱安全保護(hù)裝置：
1、感溫器檢測保護(hù)；
2、一階段高溫保護(hù)；
3、一階段高壓保護(hù);
4、箱門壓力限制;
5、水箱缺水報(bào)警斷電;
6、溫度加熱器保護(hù);
7、濕度加濕器保護(hù);
8、二階段高溫保護(hù);
9、二階段高壓保護(hù);
10、三階段緊急泄壓保護(hù);
11、手動(dòng)泄壓保護(hù);自動(dòng)泄壓等.
集成電路PCT高壓加速老化試驗(yàn)箱儀器用途：
集成電路PCT高壓加速老化試驗(yàn)箱又稱為集成電路PCT高壓加速老化試驗(yàn)箱，適用于國防、航天、汽車部件、電子零配件、塑膠、磁鐵行業(yè)、制藥、線路板，多層線路板、IC、LCD、磁鐵、燈飾、照明制品等產(chǎn)品之密封性能的檢測，相關(guān)之產(chǎn)品作加速壽命試驗(yàn)，使用于在產(chǎn)品的設(shè)計(jì)階段,用于快速暴露產(chǎn)品的缺陷和薄弱環(huán)節(jié)。測試其制品的耐厭性，氣密性。測試半導(dǎo)體封裝之濕氣能力，待測產(chǎn)品被置于嚴(yán)苛之溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會沿者膠體或膠體與導(dǎo)線架之接口滲入封裝體，常見之故障方式為主動(dòng)金屬化區(qū)域腐蝕造成之?dāng)嗦罚蚍庋b體引腳間因污染造成短路等。加速老化壽命試驗(yàn)的目的是提高環(huán)境應(yīng)力(如：溫度)與工作應(yīng)力(施加給產(chǎn)品的電壓、負(fù)荷等)，加快試驗(yàn)過程，縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗(yàn)時(shí)間.
集成電路PCT高壓加速老化試驗(yàn)箱技術(shù)優(yōu)勢:
以前的溫度測驗(yàn)都是通過溫濕度的飽和，蒸汽壓表計(jì)算的過程而計(jì)算出來準(zhǔn)確性不足，現(xiàn)采用的是新技術(shù)，在溫度、濕度、壓力是真的讀取相關(guān)感測器的數(shù)值來顯示的、實(shí)驗(yàn)過程的。采用干燥的設(shè)計(jì)在實(shí)驗(yàn)過程中才用點(diǎn)熱干燥設(shè)計(jì)，來確保測試區(qū)或者是待測品的干燥，來確保穩(wěn)定性質(zhì)。Jing準(zhǔn)的壓力/溫度對照顯示，完全符合溫濕度壓力對照表要求。